iPhone 17 Pro 最新設計曝光：Apple 標誌移位MagSafe 磁鐵陣列大改
廣告
iPhone 17 Pro 的最新效果圖近日在 X 平台上流出，展示了多項可能的設計變化。根據爆料者「Majin Bu」的分享，Apple 標誌的位置將移至手機下方，而 MagSafe 磁鐵陣列也將重新設計。
相機模組設計大改，覆蓋整個設備寬度
一直以來，關於 iPhone 17 Pro 的設計改動傳言不斷，其中包括相機模組的重大改變。新設計預計會加長突起的相機模組，並覆蓋整個設備的寬度。同時，LiDAR 掃描儀和閃光燈將移至右側，並採用鋁製框架包覆新的相機凸起設計，類似於 iPad Pro。
此外，為了實現無線充電，攝影機凸起下方的鋁製框架上將設有切口，用於安裝玻璃。
Apple 標誌位置調整，設計更低調
最近的消息指出，Apple 標誌可能會被移至玻璃的中央，位置比以往更低。根據 X 平台的爆料者「Majin Bu」分享的效果圖，這項改動可能是為了配合 MagSafe 磁鐵陣列的重新設計，讓標誌在新位置清晰可見。
「Majin Bu」表示：「Apple 打算改變 MagSafe 磁鐵陣列，以便讓蘋果標誌在新位置清晰地顯示出來。」
MagSafe 配件外觀受影響，磁環設計或有缺口
這項設計改動將對 MagSafe 配件的外觀產生影響，特別是透明外殼上的磁環可能會遮擋 Apple 標誌。為了解決這個問題，Apple 可能會更改 MagSafe 磁鐵陣列，在圓圈中增加一個缺口，確保標誌清晰可見。
消息來源：MacRumors
「為了解決這個問題，Apple 可能會更改 MagSafe 磁鐵陣列，在圓圈中增加一個缺口，以便 Apple 標誌清晰可見。」
